High-pressure x-ray diffraction and Raman spectroscopy of Hf V 2 O 7 - Université de Toulon
Article Dans Une Revue Physical Review B: Condensed Matter and Materials Physics (1998-2015) Année : 2004

High-pressure x-ray diffraction and Raman spectroscopy of Hf V 2 O 7

Domaines

Science des matériaux [cond-mat.mtrl-sci]

Christine Leroux  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://univ-tln.hal.science/hal-01727428

Soumis le : vendredi 9 mars 2018-10:48:12

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Dates et versions

hal-01727428 , version 1 (09-03-2018)

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Citer

U. Hemamala, F. El-Ghussein, M. Goedken, B. Chen, Christine Leroux, et al.. High-pressure x-ray diffraction and Raman spectroscopy of Hf V 2 O 7. Physical Review B: Condensed Matter and Materials Physics (1998-2015), 2004, 70 (21), ⟨10.1103/PhysRevB.70.214114⟩. ⟨hal-01727428⟩

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